在半導體芯片制造、精密電子組裝等高端工業場景中，一個棘手的矛盾始終存在：一方面，設備內部空間日益緊湊，毫米級的安裝高度都可能成為 “禁區”；另一方面，隨著產品結構復雜化，對測量量程的需求不斷提升，5mm 以上的大量程檢測已成為常態。如何在狹小空間內實現大量程精密測量？無錫泓川科技給出了突破性答案 ——光學轉折鏡，以創新設計讓光譜共焦傳感器的測量方向 “直角轉向”，既節省安裝空間，又兼容大量程需求，重新定義精密測量的空間可能性。
在精密測量領域，側出光傳感器曾是狹小空間的 “救星”。泓川科技旗下 LTCR 系列作為 90° 側向出光型號，憑借緊湊設計廣泛應用于深孔、內壁等特征測量。但受限于結構設計，其量程多集中在 2.5mm 以內（如 LTCR4000 量程為 ±2mm），難以滿足半導體晶圓厚度、大型精密構件高度差等大量程場景的需求。
若選擇傳統端面出光的大量程傳感器（如 LTC10000 量程 ±5mm、LTC20000 量程 ±10mm、LTC50000 量程 ±25mm），雖能覆蓋測量需求，卻因軸向出光設計需預留足夠安裝高度，在半導體設備的密閉腔室、精密儀器的緊湊模組中 “寸步難行”。空間與量程，似乎成了不可調和的矛盾。
泓川科技創新研發的光學轉折鏡，為這一矛盾提供了完美解法。通過精密光學設計，它可將光譜共焦傳感器的端面出光無損轉為 90° 直角側面出光，實現三大核心突破：
空間節省最大化：無需為軸向出光預留高度空間，探頭可沿水平方向安裝，在半導體設備、精密儀器的狹小腔體內靈活部署，安裝高度較傳統方案降低 60% 以上。
大量程優勢無損延續：兼容泓川全系列大量程傳感器，從 ±5mm 到 ±25mm 的測量需求均可滿足，無論是晶圓厚度、大型模具磨損量還是曲面輪廓掃描，都能保持亞微米級測量精度（如 LTC10000 線性誤差 <±2μm）。
抗干擾與穩定性不減：光學轉折鏡采用高透光率材料與精密鍍膜工藝，確保光信號傳輸損耗低于 3%，配合傳感器本身的抗干擾設計，即使在多光環境、金屬反光場景中，仍能保持 0.012μm 的重復精度。
這一創新設計，與國際知名品牌基恩士的同類方案異曲同工，卻更貼合國內制造業的實際需求。無論是半導體晶圓的位置與厚度檢測、新能源電池極片的高度差測量，還是大型模具的曲面輪廓掃描，泓川光學轉折鏡都能讓大量程傳感器在狹小空間內 “游刃有余”，既避免了傳統側出光傳感器的量程局限，又突破了軸向出光的空間束縛。
作為專注于光學測量與檢測的民族企業，泓川科技始終以技術創新破解行業痛點。光學轉折鏡的推出，不僅是空間與量程的雙重突破，更彰顯了中國精密測量技術向國際一流水準的邁進。
當空間不再是限制，量程不再是妥協，精密測量的未來，正在泓川科技的創新中展開新篇。