無錫泓川科技 LT-R 系列反射膜厚儀基于光干涉原理，
采用高強度氘燈（190-400nm）與鹵素燈（350-2500nm）組合光源，
光譜覆蓋紫外可見光到近紅外范圍。
適配探頭包括 LT-IVP-T10-UV-VIS（彌散光斑）、
LT-IRVP-TVF（聚焦光斑）等型號，不同探頭參考距離、測量角度、
光斑直徑等參數有所差異。其重復精度達 0.05nm，
準確度為 <±1nm 或 ±0.3%（取較大值），
采樣頻率最高 100Hz（視求解參數復雜度而定），
測厚范圍約 20nm~50μm（折射率 1.5 時）。
具備抗干擾能力強、納米級測量精度等特點，
支持自定膜結構測量、多層透明測厚、硬薄膜測量等，
可應用于液晶顯示膜厚測量、噴涂膜厚測量、光伏硅片 Poly 層膜厚測量、
精密涂布膜層測厚等場景。測控軟件為 WLIStudio，
提供二次開發包 WLI-SDK，工作溫度 10-40℃，
相對濕度 20%-85% RH（無冷凝），電源電壓 220V±20V 50Hz AC，
最大功率 50W。